激光損傷閾值測試儀(LIDT)

    本產品是西安工業大學蘇俊宏教授團隊歷經16年產品研發與迭代，形成了多波長共光路設計方案，實現了集成多種評判方法的組合評判技術，研制出產品級的激光損傷閾值測試儀，可以解決光學薄膜激光損傷閾值的精確檢測，為激光光學元件、激光薄膜器件的制造等提供硬件支撐。

    測試儀具有數字化、智能化、集成化特點，操作簡單，全自動測試，激光損傷閾值的測試可一鍵完成。同時采用觸摸屏輸入輸出，具有100-450×顯微校驗系統，對可疑點可隨時進行校驗。能夠實現光學元件或薄膜的激光損傷閾值測試，還可進行薄膜元件的激光預處理，提高其激光損傷閾值。目前已經研制出激光損傷閾值測試儀功能樣機，激光輸出波長1064nm/532nm，脈沖寬度10ns，測試范圍0-100J/cm2，測試系統分辨率0.2J/cm2。

    本裝置可以根據客戶的要求，進行定制研發。實現中紅外波長，紫外波長等更多通道的集成與處理。

激光薄膜損傷閾值測試儀主機

自主開發的軟件，全自動測試

：吳慎將